粉末電阻率測(cè)試儀/半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀     型號(hào)；HHY8-FZ-2010

 HHY8-FZ-2010半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀是本公司根據(jù)能源方面，與其是鋰電池的研究需求，開發(fā)的型粉末電阻率測(cè)試儀。

本產(chǎn)品參照有關(guān)際標(biāo)準(zhǔn)，配置粉末測(cè)試臺(tái)或四探針測(cè)試臺(tái)，可以對(duì)粉末、片狀、塊狀半導(dǎo)體材料以 及固態(tài)金屬行電阻、電阻率、方塊電阻等多用途測(cè)量。

測(cè)量范圍：電阻10^-4---10⁶，分辨率1μΩ. ㎝。

          電阻率 10^-4---10⁶，分辨率1μΩ. ㎝。

          薄層電阻  10^-3 ---- 10⁷ Ω/□ ，分辨率10^-5  Ω/□。

測(cè)量電壓量程：0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v，分辨率0.1μν，測(cè)量度  ±（0.3%讀數(shù)+2字）。

測(cè)量電：0--100mA 連續(xù)可調(diào)。電量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。

粉末測(cè)量：1、試樣粒度--標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng)40目以上直至納米材料。 2、試樣容器---內(nèi)腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、試樣度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。測(cè)量誤差±0.1mm。4、取樣壓力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm² ±0.5kg/cm²  )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm²   ±0.75kg/cm² )，壓力量程--0~200kg可調(diào)。

固體薄膜及半導(dǎo)體測(cè)量：四探針測(cè)試架---1、探針間距1mm±0.03mm；2、探針游移率﹤±0.3%；3、可測(cè)材料尺寸--直徑φ15~160mm，長(zhǎng)度<400mm。

顯示方式：3½位數(shù)字顯示電阻、電阻率、壓力、度。單位、小數(shù)點(diǎn)自動(dòng)顯示。

電源：220±10%  50HZ~60HZ  率消耗<150W。

外形尺寸： 440mm×120mm×420mm。