手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號:HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.HAD 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成：由HAD-3主機(jī)、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校能；手動/自動轉(zhuǎn)換量程可選；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
探頭選配：根據(jù)不同材料性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。配用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭點與選型參考》入
儀器具有測量度、靈敏度、穩(wěn)定性好、智能化程度、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等點。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電    阻：     0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率：     0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻：     0.050～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
直    徑：HADT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測試臺直接測試方式180HADHAD×180HADHAD。
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100HADHAD。.
測量方位: 軸向、徑向均可.

 量程劃分及誤差等

量程（Ω-cm/□）

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

電阻測試范圍

0.010～2.200

2.000～22.00

20.00～220.0

0.200～2.200k

2.000～50.00k

電阻率/方阻

0.010/0.050～2.200

2.000～22.00

20.00～220.0

0.200～2.200k

2.000～20.00k/100.0k

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重：≤0.3kg