電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲測(cè)試儀/電偶腐蝕測(cè)試儀   型號(hào):DP-CST-500

DP-CST-500系列電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲測(cè)試儀由CMOS和BiFET®集成電路組成，用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電偶腐蝕或者電化學(xué)噪聲信號(hào)，儀器可以通過(guò)基于Windows的ENtools軟件行設(shè)置（由串口控制），也可以直接通過(guò)面板觸摸鍵盤(pán)操作。通過(guò)ENtools軟件用戶可計(jì)算電偶電密度，電偶腐蝕速率、噪聲電阻Rn，以及點(diǎn)蝕數(shù)等。ENtools軟件還具有較強(qiáng)的繪圖能，支持圖形矢量方式，可以直接拷貝到Word文檔中，便于文檔建立和資料保存。

儀器作原理

DP-CST-500系列采用業(yè)單片機(jī)控制芯片，并采用斬波穩(wěn)零放大器Max7650作為前置放大電路，其溫漂小于1mV/℃，時(shí)漂小于10mV/Month。采用基于零阻電測(cè)量原理來(lái)監(jiān)測(cè)電化學(xué)噪聲和電偶腐蝕電。內(nèi)置有雙通道24bit度AD轉(zhuǎn)換器，采樣速率為1000Hz，電測(cè)量具有自動(dòng)量程能，內(nèi)置低通濾波器，可以有效消除頻噪聲入測(cè)量單元；通訊分采用RS232/485電路，電路采用光隔，避免地回路對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，保障儀器在業(yè)環(huán)境中的正常使用。